仪器型号：JEM-2100F

生产厂家：日本电子株式会社（JEOL）

技术指标：

1. TEM分辨力：0.23nm（点），0.102nm(晶格)；

2. STEM分辨力：0.20nm（晶格）；最小束斑尺寸：0.5nm；

3. 放大倍数：TEM下50～1100万倍，STEM下100～1100万倍；

4. 加速电压：160～200kV；

5. EDSX射线能量分辩力：132eV；

6. 元素分析范围：B－U；分析感量：10^-14～10^-21g。

主要用途：主要用于材料在纳米及原子尺度的微观形貌、结构缺陷和界面的研究，材料微区成分的定性和半定量分析。